光学测试
■ 1、波前畸变测量
设备名称：数字式波面干涉仪
测试波长范围：633nm和1064nm
测试尺寸范围：Φ3mm~10mm×20mm~150mm@1064nm;
Φ3~100mm×250mm@633nm
测量精度：λ/12@1064nm;
λ/20@633nm
应用范围：测量能够透过1064nm光和633nm光的晶体波前畸变，例如：Ho：Cr：Tm：YAG、Er：YAG等。
■ 2、消光比测量：
设备名称：消光比测试系统
测试波长范围：633nm和1064nm
测试尺寸范围：Φ3mm~10mm×250mm
测量误差：≤±5%
应用范围：测量能够透过1064nm光和633nm光的晶体的消光比，例如：Ho：Cr：Tm：YAG、Er：YAG等。
■ 3、角度测量：
设备名称：高精度测角仪
测试范围：直径≥Φ3mm
测量精度： ≤0.3"
应用范围：测量具有一定反光率的平面固体的几何角度，例如：晶体棱镜，金属多面体等。
■ 4、面型测量：
设备名称： ZYGO平面干涉仪
测试范围：Φ3mm~100mm
测量精度：≤λ/20@633nm
应用范围：晶体样品的表面加工面型的精确测量。
■ 5、应力测量：
设备名称：DIAS-1600数字式应力仪
测试范围：Φ5mm~60mm
测量精度：±6nm
应用范围：测量样品的微量应力大小及应力分布
■ 6、光谱测量：
设备名称：LAMBDA950分光光度计
测量范围：
波长范围：185nm~3300nm，
尺寸范围：Φ3mm~20mm×40mm@透过率
Φ5mm~20mm×90mm@反射率
测量精度：±0.1nm
应用范围：样品0-60度透过率的测量，样品6-68度反射率的测量，样品漫反射测量，偏振光p和s光的透过和反射测量。
■ 7、激光损伤阈值测试：
设备名称：抗光损伤阈值测试系统
测量范围：
波长：1064nm，
脉宽：10ns，
功率密度：600MW/cm2 ~ 2000 MW/cm2
功率波动：≤±5%
应用范围：膜层抗光损伤阈值的测量，晶体材料抗光损伤的测量。
■ 8、单程损耗测试：
设备名称：单程损耗测试系统
测量范围：
波长范围：1064nm
尺寸范围：Φ4mm~20mm×250mm
测量误差：≤±10%
应用范围：测量晶体材料在1064nm波长激光单次通过后造成的光能量损耗。
■ 9、弱吸收测试：
设备名称：PTI弱吸收测量仪Low A
bsorptiometer
测量范围：透射膜层、透明晶体、透明陶瓷、透明玻璃等;
波长范围：波长1064nm;
测量分辨率：优于1ppm;
应用范围：主要用于晶体材料内部杂质吸收和膜层缺陷弱吸收。
■ 10、傅里叶光谱测试：
设备名称：Frontier Optica傅里叶光谱仪FT-IR Spectrometer
测量范围：红外材料和红外膜层;
波长范围：7800-350cm-1;
波数精度：优于0.01 cm-1;
应用范围：主要用于红外材料和膜层的中、远红外光谱测量。
